LEEM-3 apparat för kartläggning av elektriska fält

Kort beskrivning:

Inom ingenjörsteknik är det ofta nödvändigt att känna till den elektriska fältfördelningen i elektrodsystemet för att kunna studera rörelselagen för elektroner eller laddade partiklar i det elektriska fältet. För att till exempel studera fokusering och avböjning av elektronstrålen i oscilloskopröret är det nödvändigt att känna till fördelningen av det elektriska fältet hos elektroden i oscilloskopröret. I elektronröret behöver vi studera inverkan av införandet av nya elektroder på elektronernas rörelse, och vi behöver också känna till fördelningen av det elektriska fältet. Generellt sett kan analytiska metoder och simuleringsexperimentmetoder användas för att ta reda på fördelningen av det elektriska fältet. Men endast i ett fåtal enkla fall kan den elektriska fältfördelningen erhållas med analytiska metoder. För det allmänna eller komplexa elektrodsystem bestäms den vanligtvis genom simuleringsexperiment. Nackdelen med simuleringsexperimentmetoden är att precisionen inte är hög, men för den allmänna tekniska designen kan den uppfylla kraven.