LADP-7 integrerat experimentellt system för Faraday och Zeeman-effekter
Faraday-effekten och Zeeman-effekten omfattande experimentellt instrument är ett multifunktionellt och multimätnings experimentellt undervisningsinstrument som integrerar två typer av experimentella effekter rimligt. Med detta instrument kan omvandlingsmätningen av Faraday-effekten och Zeeman-effekten slutföras och egenskaperna för magneto-optisk interaktion kan läras. Instrumentet kan användas för undervisning i optik och moderna fysikexperiment vid högskolor och universitet, samt vid forskning och tillämpning av mätmaterialegenskaper, spektra och magneto-optiska effekter.
Experiment
1. Observera Zeeman-effekten och förstå atommagnetiskt moment och rumslig kvantisering
2. Observera splittringen och polarisationen av en kvicksilver-atomspektrallinje vid 546,1 nm
3. Beräkna förhållandet mellan elektronladdning och -massa baserat på Zeeman-delningsmängden
4. Observera Zeeman-effekten vid andra kvicksilverspektrallinjer (t.ex. 577 nm, 436 nm & 404 nm) med valfria filter
5. Lär dig hur du justerar en Fabry-Perot etalon och applicerar en CCD-enhet i spektroskopi
6. Mät magnetfältets intensitet med en Teslameter och bestäm magnetfördelning av magnetfält
7. Observera Faraday-effekten och mät Verdets konstant med hjälp av ljusutrotningsmetoden
Specifikationer
| Artikel | Specifikationer |
| Elektromagnet | B: ~ 1300 mT; polavstånd: 8 mm; pol dia: 30 mm: axiell bländare: 3 mm |
| Strömförsörjning | 5 A / 30 V (max) |
| Diodlaser | > 2,5 mW @ 650 nm; linjärt polariserad |
| Etalon | dia: 40 mm; L (luft) = 2 mm; passband:> 100 nm; R = 95%; planhet: <λ / 30 |
| Teslameter | räckvidd: 0-1999 mT; upplösning: 1 mT |
| Pennars kvicksilverlampa | emitterdiameter: 6,5 mm; effekt: 3 W. |
| Interferens optiskt filter | CWL: 546,1 nm; halv passband: 8 nm; bländare: 20 mm |
| Mikroskop för direktavläsning | förstoring: 20 X; räckvidd: 8 mm; upplösning: 0,01 mm |
| Linser | kollimerande: dia 34 mm; avbildning: dia 30 mm, f = 157 mm |
Dellista
| Beskrivning | Antal |
| Huvudenhet | 1 |
| Diodelaser med strömförsörjning | 1 uppsättning |
| Magneto-optiskt materialprov | 1 |
| Pencil Mercury-lampa | 1 |
| Kvicksilverlampans justeringsarm | 1 |
| Milli-Teslameter Probe | 1 |
| Mekanisk skena | 1 |
| Bärglid | 6 |
| Strömförsörjning av elektromagnet | 1 |
| Elektromagnet | 1 |
| Kondenslins med fäste | 1 |
| Interferensfilter vid 546 nm | 1 |
| FP Etalon | 1 |
| Polarisator med skalskiva | 1 |
| Quarter-Wave Plate med fäste | 1 |
| Bildlins med fäste | 1 |
| Direktläsmikroskop | 1 |
| Fotodetektor | 1 |
| Strömsladd | 3 |
| CCD, USB-gränssnitt och programvara | 1 uppsättning (alternativ 1) |
| Störningsfilter med fäste vid 577 & 435 nm | 1 uppsättning (alternativ 2) |
