LADP-7 integrerat experimentellt system för Faraday- och Zeeman-effekter

Kort beskrivning:

Faraday-effekten och Zeeman-effekten är ett omfattande experimentellt instrument för multifunktionellt mätning och undervisning som på ett rimligt sätt integrerar två typer av experimentella effekter. Med detta instrument kan omvandlingsmätningar av Faraday-effekten och Zeeman-effekten utföras, och egenskaperna hos magneto-optisk interaktion kan läras in. Instrumentet kan användas i undervisning i optik och modern fysik på högskolor och universitet, samt i forskning och tillämpning av mätning av materialegenskaper, spektra och magneto-optiska effekter.

Skicka e-post till oss

Produktinformation

Produktetiketter

Experiment

1. Observera Zeeman-effekten och förstå atommagnetiskt moment och rumslig kvantisering

2. Observera delning och polarisering av en kvicksilveratomspektrallinje vid 546,1 nm

3. Beräkna elektronens laddnings-massaförhållande baserat på Zeeman-splittringsmängd

4. Observera Zeeman-effekten vid andra kvicksilverspektrallinjer (t.ex. 577 nm, 436 nm och 404 nm) med valfria filter.

5. Lär dig hur man justerar en Fabry-Perot-etalon och använder en CCD-enhet i spektroskopi

6. Mät magnetfältets intensitet med en teslameter och bestäm magnetfältets fördelning

7. Observera Faradays effekt och mät Verdets konstant med hjälp av ljussläckningsmetoden

Specifikationer

Punkt	Specifikationer
Elektromagnet	B: ~1400 mT; polavstånd: 8 mm; poldiameter: 30 mm: axiell öppning: 3 mm
Strömförsörjning	5 A/30 V (max)
Diodlaser	> 2,5 mW vid 650 nm; linjärt polariserad
Etalon	dia: 40 mm; L (luft) = 2 mm; passband: >100 nm; R = 95 %; planhet: < λ/30
Teslameter	intervall: 0–1999 mT; upplösning: 1 mT
Kvicksilverlampa med blyertspenna	emitterdiameter: 6,5 mm; effekt: 3 W
Interferensoptiskt filter	CWL: 546,1 nm; halvpassband: 8 nm; apertur: 20 mm
Direktläsningsmikroskop	förstoring: 20 X; räckvidd: 8 mm; upplösning: 0,01 mm
Linser	kollimering: diameter 34 mm; avbildning: diameter 30 mm, f=157 mm

Dellista

Beskrivning	Antal
Huvudenhet	1
Diodlaser med strömförsörjning	1 uppsättning
Magnetooptiskt materialprov	1
Penn-kvicksilverlampa	1
Justeringsarm för kvicksilverlampa	1
Milli-Teslameter-sond	1
Mekanisk skena	1
Bärarslid	6
Strömförsörjning av elektromagnet	1
Elektromagnet	1
Kondenseringslins med montering	1
Interferensfilter vid 546 nm	1
FP Etalon	1
Polarisator med skalskiva	1
Kvartsvågsplatta med fäste	1
Bildobjektiv med montering	1
Direktläsningsmikroskop	1
Fotodetektor	1
Nätsladd	3
CCD, USB-gränssnitt och programvara	1 set (alternativ 1)
Interferensfilter med montering vid 577 och 435 nm	1 set (alternativ 2)